日本日立臺式X射線熒光光譜儀X-Supreme8000

日本日立臺式X射線熒光光譜儀X-Supreme8000概述

X-Supreme8000 XRF針對進(jìn)行質(zhì)量保證和過程控制要求的分析儀。

分析可被應(yīng)用于多種樣品種類，包括固體、液體、粉末 、軟膏、薄膜等，從PPM到%級，覆蓋元素周期表中 Na11 至 U92 的范圍。

日本日立臺式X射線熒光光譜儀X-Supreme8000特點(diǎn)

★ 樶少或無需樣本制備。

★ 無人操作，且非實(shí)驗(yàn)室操作員也可使用

★ FocusSD 技術(shù)提供快速、準(zhǔn)確和長期的可靠性

★ 靈活進(jìn)行定性、半定量和全定量分析

★ X-Supreme8000符合ASTM D4294、ISO8754、ISO20847和ISO13032檢測方法。